Fourier-Transform-Infrarot (FT-IR)-Mikroskop LUMOS II mit FPA-Erweiterung

Hersteller: Bruker Optik GmbH

Modell: FT-IR Mikroskop LUMOS II mit FPA-Erweiterung

Kurzbeschreibung: Das FT-IR-Mikroskop wird zur visuellen Betrachtung von zwei- und dreidimensionalen Kunststoffproben sowie deren IR-Analyse eingesetzt. Mittels des FT-IR-Mikroskops kann die chemische Zusammensetzung von den Kunststoffoberflächen untersucht werden, um Verunreinigungen, Defekte, Partikel, Fasern usw. zu identifizieren. Das LUMOS II ist ein alleinstehendes FT-IR-Mikroskop, in dem ein FT-IR-Spektrometer integriert ist. Alle beweglichen Komponenten sind motorisiert und elektronisch kodiert. Das FT-IR-Mikroskop ist mit einem TE-MCT- und einem FPA-Detektor ausgestattet. Der thermoelektrisch gekühlte MCT-Detektor ist ein Einzelelementdetektor, bei dem ein Element zur Erfassung des IR-Signals dient, sodass nur ein Spektrum pro Messung erfasst wird. Der mit flüssigem Stickstoff gekühlte FPA-Detektor ist ein Mehrfachelementdetektor, der aus einer Matrix von 32 x 32 Elementen besteht und 1024 Spektren gleichzeitig erfassen kann. Das Imaging ermöglicht eine Mikroanalyse mit hoher Ortsauflösung in einer einzigen, schnellen Messung.

Proben: Kunststoffe (Granulate, Pulver, Flakes, flächige Prüfkörper), Pasten und Flüssigkeiten

Aufgabenbereiche: Untersuchung der Ursachen von Produktfehlern inkl. Einschlüsse und Inhomogenität. Erfassung der chemischen Zusammensetzung komplexer Materialien, wie bspw. mehrschichtige Strukturen, Laminate, Verbundwerkstoffe, Beschichtungen, Partikeln, Fasern und Lacken.