Fourier-Transform-Infrarot-Mikroskop LUMOS II / Bruker Optik GmbH

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Kurzbeschreibung: Das FT-IR-Mikroskop wird zur visuellen Betrachtung von zwei- und dreidimensionalen Kunststoffproben sowie deren IR-Analyse eingesetzt. Mittels des FT-IR-Mikroskops kann die chemische Zusammensetzung von den Kunststoffoberflächen untersucht werden, um Verunreinigungen, Defekte, Partikel, Fasern usw. zu identifizieren. Das LUMOS II ist ein alleinstehendes FT-IR-Mikroskop, in dem ein FT-IR-Spektrometer integriert ist. Alle beweglichen Komponenten sind motorisiert und elektronisch kodiert.
Proben: Kunststoffe (Granulate, Pulver, Flakes, flächige Prüfkörper), Pasten und Flüssigkeiten
Anwendungen: Untersuchung der Ursachen von Produktfehlern inkl. Einschlüsse und Inhomogenität. Erfassung der chemischen Zusammensetzung komplexer Materialien, wie bspw. mehrschichtige Strukturen, Laminate, Verbundwerkstoffe, Beschichtungen, Partikeln, Fasern und Lacken.

Technische Daten
Messmodus Abgeschwächte Totalreflexion (ATR), Reflexion und Transmission
Spektrale Auflösung > 2 cm-1
Detektor Thermoelektrische Kühlung
Objektiv 8x
Maximale Probengröße 22 mm x 1,5 mm (Durchmesser x Dicke)
Probentisch Temperaturbereich von 196 °C bis 600 °C