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Rasterelektronenmikroskop mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie REM/EDX

ANALYTISCHES RASTERELEKTRONENMIKROSKOP JEOL JSM-IT510LA MIT KRYO-PRÄPARATIONSSYSTEM QUORUM PP3010T

  • © Bittner | IKK

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Hersteller: JEOL Ltd. / Quorum Technologies Ltd.

Kurzbeschreibung: Analytisches Rasterelektronenmikroskop (REM) zur hochauflösenden Abbildung von Probenoberflächen. Mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX) können chemische Elemente in den Proben nachgewiesen, quantifiziert und ihre räumliche Verteilung bestimmt werden. Ein Niedervakuum-Modus ermöglicht die Abbildung von schlecht leitfähigen Proben ohne Beschichtung. Durch das Kryo-Präparationssystem können Proben bei niedrigen Temperaturen präpariert, in das REM eingeschleust und untersucht werden.

Proben: u. a. Thermoplaste, Duromere, Elastomere in Form von Bulkmaterial, Folien, Geweben, Partikeln, Schäumen

Zur Probenvorbereitung steht eine umfangreiche Ausstattung zur Verfügung.

Technische Daten REM
Emitter Thermisch: LaB6 (wechselbar auf W)
Beschleunigungsspannung 0,3 bis 30 kV
Auflösungsvermögen (LaB6)
  • ≤ 2 nm @ 30 kV
  • ≤ 12,5 nm @ 1 kV
Proben
  • Durchmesser max. 20 cm
  • Gewicht max. 5 kg
Niedervakuumbetrieb 10 bis 650 Pa
Bildgebende Detektoren
  • Sekundärelektronen-Detektor
  • Rückstreuelektronendetektor
  • SE-Detektor für Niedervakuumbetrieb
Detektor zur energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX)
  • JEOL-EDX-System
  • 60 mm2 aktive Detektorfläche
  • Energieauflösung: ≤ 133 eV (MnKα)
  • Elementbereich: B bis U
Technische Daten Kryo-Präparationssystem
Kühlung REM-Stage bis -190 °C, Temperaturstabilität < 0,5 °C
Kühlfalle bis -190 °C
Haltedauer max. 24 h
Kryo-Probenpräparation
  • Bruchvorrichtung
  • Sublimationsmodus
  • Integrierter Sputter Coater mit Platintarget

Das Kryo-Rasterelektronenmikroskop wird gemeinsam mit dem Institut für Mehrphasenprozesse IMP betrieben.

Gefördert durch die Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) – 467965905.

Nutzungsordnung

Die Nutzungsbedingungen sind in der Nutzungsordnung des Labors für Kryo-Rasterelektronenmikroskopie geregelt.